การตรวจหาการมีอยู่ของชิป IC ในถาด JEDEC

เซ็นเซอร์เลเซอร์ BGS-ZL10x สามารถใช้เพื่อตรวจหาการมีอยู่ของชิป IC ในถาด JEDEC ได้ เนื่องจากชิป IC มีสีดำและค่า ค่าการสะท้อนแสง ที่ต่ำ การตรวจจับที่เสถียรอาจทำได้ยากด้วยเซ็นเซอร์แบบสะท้อนแสงแบบกระจาย (diffuse-reflective) แบบดั้งเดิมที่ใช้ LED แหล่งกำเนิดแสง อย่างไรก็ตาม BGS-ZL10x ซึ่งใช้เทคโนโลยีเลเซอร์ + BGS (Background Suppression) สามารถตรวจจับการมีอยู่ของชิป IC สีดำได้อย่างน่าเชื่อถือ ในกรณีที่ความต่างความสูงระหว่างชิป IC และก้นช่องของถาดมีขนาดเล็ก แนะนำให้ใช้ ซีรีส์ ZA-B CMOS เลเซอร์เซนเซอร์ ที่มาพร้อม จอแสดงผล OLED เนื่องจากมี CMOS อิมเมจเซนเซอร์ ในตัวรับสัญญาณ ตัวอย่างเช่น ZA-BL60 สามารถแยกแยะความต่างความสูงที่เล็กถึง 0.08 มม.

• เซ็นเซอร์ขนาดมาตรฐาน

  ซีรีส์ BGS-ZL/BGS-Z

  เซ็นเซอร์เลเซอร์และเซ็นเซอร์ LED แบบลำแสงแคบกำลังสูง