การตรวจจับการมีอยู่ การยื่นออกมา และการเอียงของแผ่นเวเฟอร์ใน FOUP

  • การตรวจจับการมีอยู่ การยื่นออกมา และการเอียงของแผ่นเวเฟอร์ใน FOUP

การตรวจจับการมีอยู่ของเวเฟอร์ การยื่นออกมา และการเอียงภายใน FOUP ดำเนินการโดยใช้เซ็นเซอร์ BGS‑HDL สองตัว เนื่องจาก BGS‑HDL มีช่องออกควบคุมสองช่อง จึงสามารถตรวจจับการมีอยู่ของเวเฟอร์ได้ผ่านช่องออก 1 และตรวจจับการยื่นออกมาได้ผ่านช่องออก 2 สามารถกำหนดมุมเอียงของเวเฟอร์ได้จากช่วงเวลาเปิด/ปิด (ON/OFF) ของเอาต์พุต 1 จากเซ็นเซอร์ด้านซ้ายและด้านขวา

สินค้าที่ใช้

  • เลเซอร์เซนเซอร์ความแม่นยำสูง

    ซีรีส์ BGS-HL/BGS-HDL

    เลเซอร์เซนเซอร์ BGS ความละเอียดสูง

    ซีรีส์ BGS-HL/BGS-HDL

ตัวอย่างการใช้งาน สำหรับอุตสาหกรรมเซมิคอนดักเตอร์

ติดต่อเรา

ผู้เชี่ยวชาญของเราจะจัดทำแผนที่ดีที่สุดให้ตรงกับความต้องการของคุณอย่างรวดเร็ว และให้การสนับสนุนอย่างต่อเนื่องตลอดทั้งกระบวนการ

สอบถามสินค้า/ฝ่ายเทคนิค
รายการของฉัน
20