การตรวจหาแผ่นซิลิคอนที่ทับซ้อนกัน

  • การตรวจหาแผ่นซิลิคอนที่ทับซ้อนกัน

เซ็นเซอร์ไฟเบอร์ออปติก D4IF ที่ใช้ร่วมกับสายไฟเบอร์ออปติก NF-TW01 สามารถตรวจจับได้ว่าแผ่นซิลิคอนสำหรับเซลล์แสงอาทิตย์เป็นแผ่นเดียวหรือซ้อนกัน เซ็นเซอร์นี้ใช้ LED ที่ปล่อยแสงในความยาวคลื่นพิเศษ 1450 nm ซึ่งแสงนี้สามารถผ่านแผ่นเวเฟอร์ได้ในระดับปานกลาง เนื่องจากปริมาณแสงที่ผ่านจะเปลี่ยนแปลงไปตามความหนาของแผ่นเวเฟอร์ จึงทำให้การแยกแยะระหว่างแผ่นเวเฟอร์หนึ่งแผ่นกับสองแผ่นเป็นเรื่องที่ง่าย

สินค้า มือสอง

การใช้งาน ตัวอย่างเกี่ยวกับสารกึ่งตัวนำ

ติดต่อเรา

ผู้เชี่ยวชาญของเราจะจัดทำแผนที่ดีที่สุดให้ตรงกับความต้องการของคุณอย่างรวดเร็ว และให้การสนับสนุนอย่างต่อเนื่องตลอดทั้งกระบวนการ

สอบถามสินค้า/ฝ่ายเทคนิค
รายการของฉัน
20