การตรวจจับขอบบนของแผ่นแก้ว/แผ่นซิลิคอน

  • การตรวจจับขอบบนของแผ่นแก้ว/แผ่นซิลิคอน

ใช้สายเคเบิลไฟเบอร์ออปติกแบบมองด้านข้าง NF-TS22 แบบลำแสงผ่าน เพื่อดำเนินการ ทีชชิ่ง โดยไม่ต้องใช้ตัววัตถุ ด้วยมุมลำแสงประมาณ 3° NF-TS22 มีลำแสงที่แคบ ทำให้สามารถตรวจจับได้โดยได้รับผลกระทบจากแสงรบกวนน้อยที่สุด

สินค้าที่ใช้

ตัวอย่างการใช้งาน สำหรับอุตสาหกรรมเซมิคอนดักเตอร์

ติดต่อเรา

ผู้เชี่ยวชาญของเราจะจัดทำแผนที่ดีที่สุดให้ตรงกับความต้องการของคุณอย่างรวดเร็ว และให้การสนับสนุนอย่างต่อเนื่องตลอดทั้งกระบวนการ

สอบถามสินค้า/ฝ่ายเทคนิค
รายการของฉัน
20