การตรวจสอบชิปของส่วนประกอบและสถานะการมีอยู่

  • การตรวจสอบชิปของส่วนประกอบและสถานะการมีอยู่

ซีรีส์ CD2H เลเซอร์ดิสเพลสเมนต์เซนเซอร์ ได้นำระบบ “ATMOS” ที่พัฒนาโดย โดยเฉพาะสำหรับ มาติดตั้งในองค์ประกอบรับสัญญาณ ระบบ “ATMOS” สามารถตรวจจับตำแหน่งได้ตลอดเวลาด้วยปริมาณแสงสะท้อนที่เหมาะสม โดยติดตามปริมาณแสงที่สะท้อนจากวัตถุเป้าหมายแบบเรียลไทม์ สิ่งนี้ทำให้สามารถวัดชิปขนาดเล็กบนชิ้นส่วนเล็ก ๆ และตรวจสอบการมีอยู่ของชิ้นส่วนสีดำที่ติดตั้งในมุมเอียงจากระยะกลางถึงระยะไกลได้ ◆ การวัดชิปขนาดเล็กบนชิ้นส่วนเล็ก ๆ  แบบระยะใกล้ มีความละเอียด 0.1 μm และความเชิงเส้น ±0.01 mm. ◆ การตรวจสอบการมีอยู่ของชิ้นส่วนที่ติดตั้งในมุมเอียงจากระยะกลางถึงไกล  รุ่นระยะไกล มีช่วงการวัดที่กว้างตั้งแต่ 200 mm ถึง 1,200 mm. อิมเมจเซนเซอร์ OPTEX FA เลเซอร์ดิสเพลสเมนต์เซนเซอร์ การรับแสง CD2H-30 CD2H-700

สินค้าที่ใช้

  • เลเซอร์ดิสเพลสเมนต์เซนเซอร์

    ซีรีส์ CD2H

    เซ็นเซอร์ระดับกลางแบบออลอินวันที่ดีที่สุดในประเภท*

    ซีรีส์ CD2H

ตัวอย่างการใช้งาน สำหรับ ยานยนต์

ติดต่อเรา

ผู้เชี่ยวชาญของเราจะจัดทำแผนที่ดีที่สุดให้ตรงกับความต้องการของคุณอย่างรวดเร็ว และให้การสนับสนุนอย่างต่อเนื่องตลอดทั้งกระบวนการ

สอบถามสินค้า/ฝ่ายเทคนิค
รายการของฉัน
20