任務
產業
產品已使用

矽片錯位檢測

  • 矽片錯位檢測

BGS-HDL系列能偵測矽晶圓在晶圓階段的錯位。錯位晶圓可比正常高出多達5毫米,而BGS-HDL05T能偵測0.08毫米的高度差,確保高精度性能。

產品二手

半導體應用實例

聯絡我們

我們的專家會迅速為您提供最符合您需求的方案,並在整個過程中提供持續支援。

產品諮詢/技術支援
我的清單
20