驗證元件晶片及其是否存在

CD2H系列雷射位移感測器內建由 專為雷射位移感測器所開發的「ATMOS」 技術，該技術已整合至接收元件中。「ATMOS」能即時追蹤檢測對象反射的光量，因此只要接收到的光量適中，便能隨時進行位置檢測。 這使得測量小型元件上的微小碎屑，以及從中長距離驗證以傾斜角度裝配的黑色元件是否存在成為可能。◆ 測量小型元件上的微小碎屑　短距離型 可實現 0.1 μm 的解析度與 ±0.01 mm 的線性度。 ◆ 從中長距離驗證以傾斜角度安裝的元件是否存在　長距離型 可實現 200 mm 至 1,200 mm 的寬廣測量範圍。OPTEX FA影像感測器CD2H-30 CD2H-700

• 雷射位移計

  CD2H系列

  同類最佳*，一體化中階感測器