晶片部件的邊緣偵測

對吸嘴吸取的晶片元件進行邊緣檢測。先前，吸氣噴嘴會出現在背景中，導致難以精確偵測邊緣。透過 OPR，可利用附加鏡頭切換至低角度照明。藉由僅以低角度照明照射晶片元件，可避免噴嘴與背景被攝入畫面，從而清晰呈現晶片的邊緣影像。

產品二手

我們的專家會迅速為您量身打造最適合的方案，並在整個過程中提供持續的支援。