구성 요소 칩 및 존재 여부 검증

  • 구성 요소 칩 및 존재 여부 검증

CD2H 시리즈 레이저 변위 센서에는 에서 레이저 변위 센서 전용으로 개발한 “ATMOS” 가 에 탑재되어 있습니다. “ATMOS”는 감지 대상에서 반사되는 빛의 양을 실시간으로 추적하므로, 항상 적절한 양의 를 유지하며 위치 감지를 수행할 수 있습니다. 이를 통해 소형 부품의 미세한 칩을 측정하고, 중장거리에서 비스듬하게 장착된 검은색 부품의 존재 여부를 확인할 수 있습니다. ◆ 소형 부품의 미세한 칩 측정  단거리형 는 0.1 μm의 분해능과 ±0.01 mm의 직선도를 달성합니다. ◆ 중장거리에서 비스듬히 장착된 부품의 유무 확인  장거리형 는 200 mm에서 1,200 mm에 이르는 넓은 측정 범위를 제공합니다. OPTEX FA 이미지 센서 수광 소자 투광 CD2H-30 CD2H-700

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  • 레이저 변위 센서

    CD2H 시리즈

    동급 최고*, 올인원 중급 센서

    CD2H 시리즈

활용 사례 예시: 자동차

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