Medición del espesor de la película «sustrato de vidrio» y de la altura de la máscara de exposición

Mediante el sensor de desplazamiento láser CMOS de reflexión especular CD33‑L30, se llevan a cabo tanto el control de la altura de la máscara de exposición como la medición del espesor del vidrio con una única configuración. Se mide la distancia hasta la máscara de exposición para ajustar la altura óptima; posteriormente, cuando el «sustrato de vidrio» pasa por encima, se mide su espesor. En el caso de sustratos de vidrio de alta transparencia, se pueden medir espesores de 0,7 mm o superiores desde un solo lado, lo que elimina la necesidad de una disposición opuesta de dos sensores.

• Pequeño Sensores de desplazamiento láser

  CD33 Serie

  Del tamaño de media palma. Ideal para su uso integrado en máquinas más pequeñas.

  

• Sensor de desplazamiento Unidades de comunicación

  Serie UQ1

  Se puede conectar a los PLC de Mitsubishi Electric. La primera unidad de control con sensor de desplazamiento del sector.